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表盤底蓋缺陷檢測儀(廣東源光光學新產品)
  1. [ 日期:2014-10-09 查看次數:1967 ]

儀器用途:

該儀器主要用於自動檢測表盤正麵缺陷,如:確認表盤表麵的底色及底紋、表麵是否刮花、有汙漬、灰塵;確認時位字釘形狀、粗幼、長短、顏色、夜光、少字釘、錯字釘、釘傷、釘崩、釘汙等;確認分線印刷的位置、大小、顏色、斷劃、少印刷等;確認LOGO印刷的位置、大小、顏色、斷劃、印刷不良等; 確認日曆窗的大小、印刷、披鋒等; 確認附加件有無、位置、配合等。

儀器特點:

具有國際先進水平的測量軟件包YVM-AOI 將現代坐標測量技術、現代CAD工業設計技術和現代工業加工技術的幾何量尺寸、公差評定測試要求進行了最佳結合,不管是簡單的箱體類工件還是複雜的輪廓曲麵類工件抑或是更加專業的LCD行業,YVM-AOI 軟件都為其提供了完美的測量解決方案。計算速度快、數學模型先進、功能齊全、操作直觀、穩定性好。

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